我校信息与电气工程学院马晓丹教授指导的2020级硕士研究生沈盼盼以第一作者，马晓丹教授为通讯作者在中科院分区一区期刊《Computersand Electronics in Agriculture》（IF=6.757）在线发表了题为“Calculationmethod of wilting index based on fractal dimension of multispectralimages for the soybeancanopy”的研究论文。(DOI：https://doi.org/10.1016/j.compag.2023.107656)
干旱胁迫是制约大豆优质高产重要环境因素，通过快速检测大豆受干旱胁迫时的冠层表型性状，对大豆品种的栽培和品质提升都具有重要意义。针对传统人工化学试验测定大豆萎蔫指标时，存在试验操作过程繁琐且耗时费力，快速无损检测实现困难等问题，本文将多光谱成像处理技术与分形维数方法有机融合，提出了基于多光谱图像分形维数的大豆冠层萎蔫度计算方法，该成果可以表征其受干旱胁迫时冠层生态学和形态学变化程度，为大豆品种选育、栽培和管理过程中植株性状的科学调控提供定量化依据和技术支持。
本研究得到了黑龙江省自然基金（LH2021C062）、黑龙江八一农垦大学三横三纵（TDJH202101和ZRCQC202006)、黑龙江省博士后科研发展基金(LBH-Q20053)的资助。